Atommagkutató Intézet
MTA Kiváló Kutatóhely

APHA Szerző - Gruzza B.4

P15353

 Application for the excitation of medium energy (up to 10keV) photoelectron and Auger lines used in the study of surface analytical applications.

Szerzők Tóth J.,  Molnár Gy.,  Varga D.,  Cserny I.,  Kövér L.,  Kiss J.,  Gál I.,  Nagy A.,  Domonyi A.,  Kertész Zs.,  Mosolygó J.,  Tarr G.,  Petô G.,  Szabó I.,  Ould-Metidji Y.,  Gruzza B.,  Bideux L.,  Matolin V.,  Sulyok A.,  Menyhárd M.
Megjelenés helye Atomki Annual Report 2001 0 (2002) 58
Jelleg Annual Report
Témák Developm. of Instr. and Methods

P15262

 Ag, Ge and Sn reference samples for elastic peak electron spectroscopy (EPES), used for experimental determination of the inelastic mean free path and the surface excitation parameter.

Szerzők Gurban S.,  Gergely G.,  Menyhárd M.,  Adam J.,  Adamik M.,  Daróczi Cs.,  Tóth J.,  Varga D.,  Csik A.,  Gruzza B.
Megjelenés helye SCI Surface and Interface Analysis 34 (2002) 206
Impakt faktor 1.0712002
Jelleg Scientific paper, proceedings
Témák Developm. of Instr. and Methods
Materials Science and Analytics
Linkek DOI Hivatkozások (13)

P14663

 Determination of inelastic mean free paths for AuPd alloys by elastic peak electron spectroscopy (EPES).

Szerzők Krawczyk M.,  Jablonski A.,  Zommer L.,  Tóth J.,  Varga D.,  Kövér L.,  Gergely L.,  Menyhárd M.,  Sulyok A.,  Benedek Zs.,  Gruzza B.,  Robert C.
Megjelenés helye SCI Surface and Interface Analysis 33 (2002) 23
Impakt faktor 1.0712002
Jelleg Scientific paper, proceedings
Témák Materials Science and Analytics
Linkek DOI Hivatkozások (11)

P14381

 A special XPS-XAES X-ray source and its application for the excitation of medium energy (up to 10 keV) photoelectron and Auger lines used in the study of surface analytical applications (TU-P-TDE 07. Book of abstr.: p. 293).

Szerzők Tóth J.,  Molnár Gy.,  Varga D.,  Cserny I.,  Kövér L.,  Kiss J.,  Gál I.,  Nagy A.,  Domonyi A.,  Kertész Zs.,  Mosolygó J.,  Tarr G.,  Petô G.,  Szabó I.,  Ould-Metidji Y.,  Gruzza B.,  Bideux L.,  Matolin V.,  Sulyok A.,  Menyhárd M.
Megjelenés helye ECASIA-2001. 9th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis. Avignon, France, 30 Sept. - 5 Oct., 2001 0 (2001) 0
Jelleg Conf. abstract, poster, talk
Témák Developm. of Instr. and Methods
Materials Science and Analytics

P14380

 Ag, Ge and Sn reference samples for elastic peak electron spectroscopy (EPES), used for experimental determination of the IMFP and surface excitation parameter (SEP) (MO-O-DIQ 10. Book of abstr.: p. 48).

Szerzők Gurban S.,  Gergely G.,  Menyhárd M.,  Adam J.,  Zsolt G.,  Adamik M.,  Daróczi Cs.,  Tóth J.,  Varga D.,  Jablonski A.,  Gruzza B.
Megjelenés helye ECASIA-2001. 9th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis. Avignon, France, 30 Sept. - 5 Oct., 2001 0 (2001) 0
Jelleg Conf. abstract, poster, talk
Témák Developm. of Instr. and Methods
Materials Science and Analytics

P13960

 UHV aluminium oxide on silicon substrates: electron spectroscopies analysis and electrical measurements.

Szerzők Gruzza B.,  Merle S.,  Bideux L.,  Robert C.,  Kövér L.,  Tóth J.,  Matolin V.
Megjelenés helye SCI Applied Surface Science 175 (2001) 656
Impakt faktor 1.0682001
Jelleg Scientific paper, proceedings
Témák Materials Science and Analytics
Linkek DOI Hivatkozások (1)

P13565

 UHV aluminium oxide on silicon substrates: Electron spectroscopic analysis and electric measurements. (Program and abstracts: p. WE-A0930).

Szerzők Gruzza B.,  Merle S.,  Bideux L.,  Robert C.,  Kövér L.,  Tóth J.,  Matolin V.
Megjelenés helye 10th International Conference on Solid Films and Surfaces - ICSF-10. Princeton, USA, July 9-13, 2000 0 (2000) 0
Jelleg Conf. abstract, poster, talk
Témák Materials Science and Analytics

P13378

 Determination of yield ratios of elastically backscattered electrons for deriving inelastic mean free paths in solids.

Szerzők Varga D.,  Kövér L.,  Tóth J.,  Tôkési K.,  Lesiak B.,  Jablonski A.,  Robert C.,  Gruzza B.,  Bideux L.
Megjelenés helye SCI Surface and Interface Analysis 30 (2000) 202
Impakt faktor 1.2152000
Jelleg Scientific paper, proceedings
Témák Developm. of Instr. and Methods
Atomic and Molecular Physics
Materials Science and Analytics
Linkek DOI Hivatkozások (1)

P12582

 Determination of yield ratios of elastically backscattered electrons for deriving inelastic mean free path in solids (ECASIA'99 Abstracts, MO-QA29 p.204).

Szerzők Varga D.,  Kövér L.,  Tóth J.,  Tôkési K.,  Lesiak B.,  Jablonski A.,  Robert C.,  Gruzza B.,  Bideux L.
Megjelenés helye 8th European Conference on Applied Surface and Interface Analysis. Sevilla, Spain, 4-8 Oct., 1999 0 (1999) 0
Jelleg Conf. abstract, poster, talk
Témák Developm. of Instr. and Methods
Atomic and Molecular Physics
Materials Science and Analytics

P12579

 Experimental determination of the inelastic mean free path of electrons in GaSb and InSb.

Szerzők Gergely G.,  Sulyok A.,  Menyhárd M.,  Tóth J.,  Varga D.,  Jablonski A.,  Krawczyk M.,  Gruzza B.,  Bideux L.,  Robert C.
Megjelenés helye SCI Applied Surface Science 144 (1999) 173
Impakt faktor 1.1951999
Jelleg Scientific paper, proceedings
Témák Developm. of Instr. and Methods
Materials Science and Analytics
Linkek DOI Hivatkozások (2)
Összes Publikációja

H36152 --> P18489

Megjelenés helye SCI Surface Science
Megjelenés éve 2010
Oldal 217
Kötet 604
Hivatkozó Gruzza B.
Linkek Hivatkozott Publikáció
Összes Hivatkozása

Szerzői Táblázat

Total Headed by ATOMKI under name
of the author
Part of the author Part of the author & ATOMKI
Publications:2000.8870
SCIPublications:700.2970
Cited publications:700.2970
Non-locally cited publications:600.2690
Cited SCIpublications:700.2970
Non-locally cited SCIpublications:600.2690
SCICited publications:500.2140
Non-locally SCIcited publications:500.2140
SCICited SCIpublications:500.2140
Non-locally SCIcited SCIpublications:500.2140
Citations:3201.0880
Non-local citations:3101.060
SCICitations:3201.0880
Non-local SCIcitations:2200.760
Impact~2002:6.60400.8870
Averaged impact:0.3300.8870
SCIaveraged impact:0.94300.2970
Citational effectivity:4.57100.2970
Non-local citational effectivity:5.16700.2690
SCIcitational effectivity:4.400.2140
Non-local SCIcitational effectivity:4.400.2140
Publications, n:9.1000
SCIPublications, n:8.286000
Cited publications, n:8.286000
Non-locally cited publications, n:8.333000
Cited SCIpublications, n:8.286000
Non-locally cited SCIpublications, n:8.333000
SCICited publications, n:8.4000
Non-locally SCIcited publications, n:8.4000
SCICited SCIpublications, n:8.4000
Non-locally SCIcited SCIpublications, n:8.4000
z-index:2000