Atommagkutató Intézet

APHA Szerző - Gurban S.³

**P22170**
*Evaluation of the inelastic mean free path (IMFP) of electrons in polyaniline and poyacetylene samples obtained from elastic peak electron spectroscopy (EPES).*
Szerzők	Gergely Gy., Menyhárd M., Sulyok A., Gurban S., Lesiak B., Jablonski A., Kosinski A., Tóth J., Varga D.
Megjelenés helye	Central European Journal of Physics 5 (2007) 188
Impakt faktor	1.883²⁰⁰⁷
Jelleg	Scientific paper, proceedings
Témák	Materials Science and Analytics

**P20605**
*Quantification of elastic backscattering of electrons, based on the backscattering yield.*
Szerzők	Gergely G., Gurban S., Menyhárd M., Tóth J., Varga D., Tôkési K., Cserny I.
Megjelenés helye	Atomki Annual Report 2006 0 (2007) 43
Jelleg	Annual Report
Témák	Materials Science and Analytics

**P20071**
*Felületi kémiai analízis nagy energia-feloldású REELS-EPES-XPS-XAES módszerekkel. (In Hung.)*
Szerzők	Tóth J., Cserny I., Kövér L., Tôkési K., Varga D., Gergely Gy., Menyhárd M., Sulyok A., Orosz G. T., Gurban S.
Megjelenés helye	Felületkémiai és Nanoszerkezeti Munkabizottság (MTA) és Anyag- és Környezetkémiai Intézet (Kémiai Kutatóközpont) (MTA) Ünnepi Tudományos Ülése. 2006. május 23. 0 (2006) 0
Jelleg	Other abstract, poster, talk
Témák	Developm. of Instr. and Methods Atomic and Molecular Physics Materials Science and Analytics

**P20068**
*Szigetelô (SiO2, Al2O3, MgO) vékonyrétegek EPES vizsgálatai. (In Hung.)*
Szerzők	Gergely G., Menyhárd M., Gurban S., Tóth J., Varga D., Jablonski A.
Megjelenés helye	Felületkémiai és Nanoszerkezeti Munkabizottság Tudományos Ülése. Budapest, MTA, 2006. február 24. 0 (2006) 0
Jelleg	Other abstract, poster, talk
Témák	Developm. of Instr. and Methods Materials Science and Analytics

**P20038**
*Determination of the surface excitation correction in elastic peak electron spectroscopy for selected conducting polymers.*
Szerzők	Lesiak B., Gergely G., Tóth J., Menyhárd M., Varga D., Gurban S., Sulyok A., Kosinski A.
Megjelenés helye	^SCI Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 154 (2006) 14
Impakt faktor	1.172²⁰⁰⁶
Jelleg	Scientific paper, proceedings
Témák	Atomic and Molecular Physics Materials Science and Analytics
Linkek	DOI

**P19984**
*Quantification of elastic peak electron spectroscopy (EPES) based on the backscattering yield (AQbstr.: p. 51 O5).*
Szerzők	Gergely G., Gurban S., Menyhárd M., Tóth J., Varga D., Tôkési K., Cserny I.
Megjelenés helye	11th Joint Vacuum Conference. JVC 11. Prague, Czech Republic, 24-28 Sept., 2006 0 (2006) 0
Jelleg	Conf. abstract, poster, talk
Témák	Developm. of Instr. and Methods Atomic and Molecular Physics Materials Science and Analytics

**P19857**
*Quantification and calibration of elastic peak electron spectroscopy (EPES) based on the backscattering yield (Program and abstr.: p. 12).*
Szerzők	Gergely G., Gurban S., Menyhárd M., Tóth J., Tôkési K., Varga D.
Megjelenés helye	Workshop on Modeling and Data for Electron Spectroscopies: Standardization of Surface Analysis Techniques. Brussels, Belgium, 13-15 Sep., 2006 0 (2006) 0
Jelleg	Conf. abstract, poster, talk
Témák	Materials Science and Analytics

**P19622**
*Experimental determination of the inelastic mean free path (IMFP) of electrons in SiO2 applying surface excitation correction.*
Szerzők	Gergely G., Gurban S., Menyhárd M., Sulyok A., Tóth J., Varga D.
Megjelenés helye	Atomki Annual Report 2005 0 (2006) 52
Jelleg	Annual Report
Témák	Materials Science and Analytics

**P19388**
*Experimental determination of the inelastic mean free path (IMFP) of electrons in selected oxide films appliying surface excitation correction.*
Szerzők	Gurban S., Gergely Gy., Tóth J., Varga D., Jablonski A., Menyhárd M.
Megjelenés helye	^SCI Surface and Interface Analysis 38 (2006) 624
Impakt faktor	1.427²⁰⁰⁶
Jelleg	Scientific paper, proceedings
Témák	Materials Science and Analytics
Linkek	DOI Hivatkozások (1)

**P19113**
*Experimental determination of the inelastic mean free path (IMFP) of electrons in SiO2 applying surface excitation correction.*
Szerzők	Gergely Gy., Gurban S., Menyhárd M., Sulyok A., Tóth J., Varga D., Jablonski A.
Megjelenés helye	11th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis. ECASIA 05. Vienna, Austria, 25-30 Sept., 2005 0 (2005) 0
Jelleg	Conf. abstract, poster, talk
Témák	Materials Science and Analytics

	Total	Headed by ATOMKI under name of the author	Part of the author	Part of the author & ATOMKI
Publications:	24	0	1.598	0
^SCIPublications:	8	0	0.543	0
Cited publications:	6	0	0.409	0
Non-locally cited publications:	6	0	0.409	0
Cited ^SCIpublications:	6	0	0.409	0
Non-locally cited ^SCIpublications:	6	0	0.409	0
^SCICited publications:	6	0	0.409	0
Non-locally ^SCIcited publications:	6	0	0.409	0
^SCICited ^SCIpublications:	6	0	0.409	0
Non-locally ^SCIcited ^SCIpublications:	6	0	0.409	0
Citations:	31	0	1.709	0
Non-local citations:	31	0	1.709	0
SCICitations:	31	0	1.709	0
Non-local ^SCIcitations:	21	0	1.141	0
Impact^~2007:	11.194	0	1.598	0
Averaged impact:	0.466	0	1.598	0
^SCIaveraged impact:	1.164	0	0.543	0
Citational effectivity:	5.167	0	0.409	0
Non-local citational effectivity:	5.167	0	0.409	0
SCIcitational effectivity:	3.5	0	0.409	0
Non-local ^SCIcitational effectivity:	3.5	0	0.409	0
Publications, n:	6.208	0	0	0
^SCIPublications, n:	6.5	0	0	0
Cited publications, n:	6.5	0	0	0
Non-locally cited publications, n:	6.5	0	0	0
Cited ^SCIpublications, n:	6.5	0	0	0
Non-locally cited ^SCIpublications, n:	6.5	0	0	0
^SCICited publications, n:	6.5	0	0	0
Non-locally ^SCIcited publications, n:	6.5	0	0	0
^SCICited ^SCIpublications, n:	6.5	0	0	0
Non-locally ^SCIcited ^SCIpublications, n:	6.5	0	0	0
z-index:	3	0	0	0