Atommagkutató Intézet
MTA Kiváló Kutatóhely

APHA Szerző - Tougaard S.4

P25609

 Comparison between surface excitation parameter obtained from QUEELS and SESINIPAC.

Szerzők Pauly N.,  Novák M.,  Dubus A.,  Tougaard S.
Megjelenés helye Surface and Interface Analysis 44 (2012) 1147
Impakt faktor 1.2202012
Jelleg Scientific paper, proceedings
Témák Materials Science and Analytics
Linkek Hivatkozások (2)

P19387

 Intrinsic and extrinsic excitations in deep core photoelectron spectra of solid Ge.

Szerzők Kövér L.,  Novák M.,  Egri S.,  Cserny I.,  Berényi Z. J.,  Tóth J.,  Varga D.,  Drube W.,  Yubero F.,  Tougaard S.,  Werner W. S. M.
Megjelenés helye SCI Surface and Interface Analysis 38 (2006) 569
Impakt faktor 1.4272006
Jelleg Scientific paper, proceedings
Témák Atomic and Molecular Physics
Materials Science and Analytics
Linkek DOI Hivatkozások (4)

P18922

 Test of dielectric-response model for energy and angular dependence of plasmon excitations in core-level photoemission.

Szerzők Yubero F.,  Kövér L.,  Drube W.,  Eickhoff T.,  Tougaard S.
Megjelenés helye SCI Surface Science 592 (2005) 1
Impakt faktor 1.7802005
Jelleg Scientific paper, proceedings
Témák Developm. of Instr. and Methods
Atomic and Molecular Physics
Materials Science and Analytics
Linkek DOI Hivatkozások (3)

P18768

 Intrinsic and extrinsic losses in deep core photoelectron and Auger spectra of solid Ge and Si (Book of Abstracts of ECASIA 05, p. 226).

Szerzők Kövér L.,  Novák M.,  Egri S.,  Cserny I.,  Berényi Z. J.,  Tóth J.,  Végh J.,  Varga D.,  Drube W.,  Yubero F.,  Tougaard S.,  Werner W. S. M.
Megjelenés helye 11th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis. ECASIA 05. Vienna, Austria, 25-30 Sept., 2005 0 (2005) 0
Jelleg Conf. abstract, poster, talk
Témák Atomic and Molecular Physics
Materials Science and Analytics

P18765

 Test of dielectric response model for energy and angular dependence of plasmon excitations in core-level photoemission (Book of abstracts of ECASIA 05, p. 225).

Szerzők Yubero F.,  Tougaard S.,  Kövér L.,  Drube W.,  Eickhoff T.
Megjelenés helye 11th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis. ECASIA 05. Vienna, Austria, 25-30 Sept., 2005 0 (2005) 0
Jelleg Conf. abstract, poster, talk
Témák Developm. of Instr. and Methods
Materials Science and Analytics

P17476

 Contribution of intrinsic and extrinsic excitations to KLL Auger spectra induced from Ge films.

Szerzők Berényi Z. J.,  Kövér L.,  Tougaard S.,  Yubero F.,  Tóth J.,  Cserny I.,  Varga D.
Megjelenés helye SCI Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 135 (2004) 177
Impakt faktor 1.0692004
Jelleg Scientific paper, proceedings
Témák Atomic and Molecular Physics
Linkek DOI Hivatkozások (3)

P17108

 Extrinsic and intrinsic excitations in Ge and Si photoelectron spectra (Abstracts of AVS50, http://www.avs.org).

Szerzők Kövér L.,  Berényi Z. J.,  Tougaard S.,  Yubero F.,  Cserny I.,  Végh J.,  Tóth J.,  Varga D.,  Drube W.,  Eickhoff T.
Megjelenés helye 50th International Symposium of the American Vacuum Society. Baltimore, USA, 2-7 Nov., 2003 0 (2003) 0
Jelleg Conf. abstract, poster, talk
Témák Developm. of Instr. and Methods
Materials Science and Analytics

P16988

 Thickness of thin Co films determined by K-Auger spectral shapes analysis and RBS (Book of abstracts: p. 371).

Szerzők Kövér L.,  Tougaard S.,  Simon A.,  Tóth J.,  Egri S.,  Berényi Z. J.,  Jeynes C.
Megjelenés helye 10th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis. ECASIA 03. Berlin, Germany, 5-10 Oct., 2003 0 (2003) 0
Jelleg Conf. abstract, poster, talk
Témák Developm. of Instr. and Methods
Materials Science and Analytics

P16718

 Contribution of intrinsic and extrinsic excitations to KLL Auger spectra induced from Ge films (Abstr.: p. 149).

Szerzők Berényi Z. J.,  Kövér L.,  Tougaard S.,  Yubero F.,  Tóth J.,  Varga D.
Megjelenés helye 9th International Conference on Electronic Spectroscopy and Structure. ICESS-9. Uppsala, Sweden, June 30 - July 4, 2003 0 (2003) 0
Jelleg Conf. abstract, poster, talk
Témák Atomic and Molecular Physics
Materials Science and Analytics

P16698

 Experimental determination of electron inelastic scattering cross-sections in Si, Ge and III-V semiconductors.

Szerzők Orosz G. T.,  Gergely G.,  Gurban S.,  Menyhárd M.,  Tóth J.,  Varga D.,  Tougaard S.
Megjelenés helye SCI Vacuum 71 (2003) 147
Impakt faktor 0.6122003
Jelleg Scientific paper, proceedings
Témák Materials Science and Analytics
Linkek DOI
Összes Publikációja

H14237 --> P7684

Megjelenés helye SCI Journal of Vacuum Science and Technology A
Megjelenés éve 1996
Oldal 1415
Kötet 14
Hivatkozó Tougaard S.
Linkek Hivatkozott Publikáció

H23763 --> P7684

Megjelenés helye SCI Surface and Interface Analysis
Megjelenés éve 1998
Oldal 249
Kötet 26
Hivatkozó Tougaard S.
Linkek Hivatkozott Publikáció

H33901 --> P19387

Megjelenés helye SCI Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena
Megjelenés éve 2010
Oldal 128
Kötet 178
Hivatkozó Tougaard S.
Linkek Hivatkozott Publikáció

H41634 --> P7684

Megjelenés helye Advanced materials'95. Ed.:Y.Bande et al. Tsukuba
Megjelenés éve 1995
Oldal 161
Hivatkozó Tougaard S.
Linkek Hivatkozott Publikáció

H50789 --> P7684

Megjelenés helye SCI Applied Surface Science
Megjelenés éve 1996
Oldal 1
Kötet 101
Hivatkozó Tougaard S.
Linkek Hivatkozott Publikáció
Összes Hivatkozása

Szerzői Táblázat

Total Headed by ATOMKI under name
of the author
Part of the author Part of the author & ATOMKI
Publications:2702.1190
SCIPublications:1000.7670
Cited publications:1100.9940
Non-locally cited publications:1100.9940
Cited SCIpublications:900.6960
Non-locally cited SCIpublications:900.6960
SCICited publications:1000.910
Non-locally SCIcited publications:1000.910
SCICited SCIpublications:800.6130
Non-locally SCIcited SCIpublications:800.6130
Citations:4303.2810
Non-local citations:4203.0810
SCICitations:4303.2810
Non-local SCIcitations:3402.6040
Impact~2012:13.99902.1190
Averaged impact:0.51802.1190
SCIaveraged impact:1.27800.7670
Citational effectivity:3.90900.9940
Non-local citational effectivity:3.81800.9940
SCIcitational effectivity:3.400.910
Non-local SCIcitational effectivity:3.400.910
Publications, n:5.889000
SCIPublications, n:6000
Cited publications, n:5.727000
Non-locally cited publications, n:5.727000
Cited SCIpublications, n:6000
Non-locally cited SCIpublications, n:6000
SCICited publications, n:5.8000
Non-locally SCIcited publications, n:5.8000
SCICited SCIpublications, n:6.125000
Non-locally SCIcited SCIpublications, n:6.125000
z-index:4000