English
| APHA-kód | P17981 |
| Szerzők | Gillaspy J. D., Blagojevic B., Dalgarno A., Fahey K., Kharchenko V., Lami J. M., Le Bigot E. -O., Lugosi L., Makónyi K., Ratliff L. P., Schnopper H. W., Silver E. H., Takács E., Tan J. N., Tawara H., Tôkési K. |
| Cím | Visible, EUV, and X-ray spectroscopy at the NIST EBIT facility. |
| Megjelenés helye | 14th APS Topical Conference on Atomic Processes in Plasmas. Santa Fe, New Moxico, 19-22 April, 2004. Proceedings. Eds: J.S. Cohen, Kilcrease, D.P., Mazevet, S. New York, AIP (AIP Conference Proceedings 730) 0 (2004) 245 |
| Impakt faktor | 0.000 |
| Megnézem | DOI Hivatkozások (1) |
