APHA-kód |
P17981 |
Szerzők |
Gillaspy J. D.,  Blagojevic B.,  Dalgarno A.,  Fahey K.,  Kharchenko V.,  Lami J. M.,  Le Bigot E. -O.,  Lugosi L.,  Makónyi K.,  Ratliff L. P.,  Schnopper H. W.,  Silver E. H.,  Takács E.,  Tan J. N.,  Tawara H.,  Tôkési K. |
Cím |
Visible, EUV, and X-ray spectroscopy at the NIST EBIT facility. |
Megjelenés helye |
14th APS Topical Conference on Atomic Processes in Plasmas. Santa Fe, New Moxico, 19-22 April, 2004. Proceedings. Eds: J.S. Cohen, Kilcrease, D.P., Mazevet, S. New York, AIP (AIP Conference Proceedings 730) 0 (2004) 245 |
Impakt faktor |
0.000 |
Megnézem |
DOI
Hivatkozások (1) |