Atommagkutató Intézet
MTA Kiváló Kutatóhely

Publikáció

APHA-kód P13790
Szerzők Kövér L.,  Tougaard S.,  Tóth J.,  Daróczi L.,  Szabó I. A.,  Langer G. A.,  Menyhárd M.
Cím Determination of overlayer thickness by QUASES analysis of photon-excited KLL Auger spectra of Ni and Cu films.
Megjelenés helye Surface and Interface Analysis 31 (2001) 271
Impakt faktor 0.987
Megnézem DOI   Hivatkozások (14)