English
| APHA-kód | P8225 |
| Szerzők | Kis-Varga M., Végh J. |
| Cím | Influence of in-sample scattering of fluorescent radiation on line shapes of Si(Li) detectors in XRF studies. |
| Megjelenés helye | X-Ray Spectrometry 22 (1993) 166 |
| Impakt faktor | 1.196 |
| Megnézem | Hivatkozások (11) |
