APHA-code | P8225 |
Authors | Kis-Varga M.,  Végh J. |
Title | Influence of in-sample scattering of fluorescent radiation on line shapes of Si(Li) detectors in XRF studies. |
Megjelenés helye | X-Ray Spectrometry 22 (1993) 166 |
Impact factor | 1.196 |
Megnézem | Hivatkozások (11) |
