| APHA-code | P8225 |
| Authors | Kis-Varga M.,  Végh J. |
| Title | Influence of in-sample scattering of fluorescent radiation on line shapes of Si(Li) detectors in XRF studies. |
| Megjelenés helye | X-Ray Spectrometry 22 (1993) 166 |
| Impact factor | 1.196 |
| Megnézem | Hivatkozások (11) |
Magyar