English
| APHA-kód | P14896 |
| Szerzők | Simon A., Kántor Z. |
| Cím | Micro-RBS characterisation of the chemical composition and particulate depostion on pulsed laser deposited Si1-xGex thin films. |
| Megjelenés helye | Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 190 (2002) 351 |
| Impakt faktor | 1.158 |
| Megnézem | Hivatkozások (8) |
