Publikáció

APHA-kód P14896
Szerzők Simon A.,  Kántor Z.
Cím Micro-RBS characterisation of the chemical composition and particulate depostion on pulsed laser deposited Si1-xGex thin films.
Megjelenés helye Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 190 (2002) 351
Impakt faktor 1.158
Megnézem   Hivatkozások (8)