English
| APHA-kód | P22057 |
| Szerzők | Erdélyi G., Cserháti Cs., Csik A., Daróczi L., Langer G. A., Balogh Z., Varga M., Beke D. L., Zizak I., Erko A. |
| Cím | Nanoresolution interface studies in thin films by synchrotron x-ray diffraction and by using x-ray waveguide sructure. |
| Megjelenés helye | X-Ray Spectrometry 38 (2009) 338 |
| Impakt faktor | 1.443 |
| Megnézem | DOI Hivatkozások (6) |
