Atommagkutató Intézet
MTA Kiváló Kutatóhely

Publikáció

APHA-kód P22057
Szerzők Erdélyi G.,  Cserháti Cs.,  Csik A.,  Daróczi L.,  Langer G. A.,  Balogh Z.,  Varga M.,  Beke D. L.,  Zizak I.,  Erko A.
Cím Nanoresolution interface studies in thin films by synchrotron x-ray diffraction and by using x-ray waveguide sructure.
Megjelenés helye X-Ray Spectrometry 38 (2009) 338
Impakt faktor 1.443
Megnézem DOI   Hivatkozások (6)