Atommagkutató Intézet
MTA Kiváló Kutatóhely

APHA Szerző - Zizak I.4

P27352

 The earliest stage of phase growth in sharp concentration gradients.

Szerzők Parditka B.,  Tomán J.,  Cserháti Cs.,  Jánosfalvi Zs.,  Csik A.,  Zizak I.,  Feyerherm R.,  Schmitz G.,  Erdélyi Z.
Megjelenés helye SCI Acta Materialia 87 (2015) 111
Impakt faktor 5.0582015
Jelleg Scientific paper, proceedings
Témák Materials Science and Analytics
Linkek Hivatkozások (2)

P22057

 Nanoresolution interface studies in thin films by synchrotron x-ray diffraction and by using x-ray waveguide sructure.

Szerzők Erdélyi G.,  Cserháti Cs.,  Csik A.,  Daróczi L.,  Langer G. A.,  Balogh Z.,  Varga M.,  Beke D. L.,  Zizak I.,  Erko A.
Megjelenés helye SCI X-Ray Spectrometry 38 (2009) 338
Impakt faktor 1.4432009
Jelleg Scientific paper, proceedings
Témák Materials Science and Analytics
Linkek DOI Hivatkozások (6)

P22056

 Nanoresolution interface studies in thin films by synchrotron x-ray diffraction and by using x-ray waveguide sructure.

Szerzők Erdélyi G.,  Cserháti Cs.,  Csik A.,  Daróczi L.,  Langer G. A.,  Balogh Z.,  Varga M.,  Beke D. L.,  Zizak I.,  Erko A.
Megjelenés helye European Conference on X-Ray Spectroberty. EXRS 2008. Cavtat, Dubrovnik, Croatia, 16-20 June, 2008 0 (2008) 0
Jelleg Conf. abstract, poster, talk
Témák Materials Science and Analytics

P21833

 Characterization of intermetallic layer with nanoresolution using X-ray standing wave technique.

Szerzők Cserháti Cs.,  Erdélyi Z.,  Balogh Z.,  Daróczi L.,  Csik A.,  Langer G. A.,  Varga M.,  Zizak I.,  Erko A.,  Beke D. L.
Megjelenés helye Defect and Diffusion Forum 289 (2009) 369
Jelleg Scientific paper, proceedings
Témák Materials Science and Analytics
Linkek DOI

P21318

 Linear growth kinetics of nanometric silicides in Co/amorphous-Si and Co/CoSi/amorphous-Si thin films.

Szerzők Cserháti Cs.,  Balogh Z.,  Csik A.,  Langer G. A.,  Erdélyi Z.,  Glodán Gy.,  Katona G. L.,  Beke D. L.,  Zizak I.,  Darowski N.,  Dudzik E.,  Feyerherm R.
Megjelenés helye SCI Journal of Applied Physics 104 (2008) 4311
Impakt faktor 2.2012008
Jelleg Scientific paper, proceedings
Témák Materials Science and Analytics
Linkek DOI Hivatkozások (9)

P21077

 Silicide formation reactions in a-Si/Co multilayered samples.

Szerzők Balogh Z.,  Cserháti Cs.,  Erdélyi Z.,  Csik A.,  Langer G. A.,  Zizak I.,  Darowski N.,  Dudzik E.,  Feyerherm R.,  Beke D. L.
Megjelenés helye Defect and Diffusion Forum 277 (2008) 3
Jelleg Scientific paper, proceedings
Témák Materials Science and Analytics
Linkek DOI Hivatkozások (1)

P18006

 Transient interface sharpening in miscible alloys.

Szerzők Erdélyi Z.,  Sladecek M.,  Stadler L. -M.,  Zizak I.,  Langer G. A.,  Kis-Varga M.,  Beke D. L.,  Sepiol B.
Megjelenés helye SCI Science 306 (2004) 1913
Impakt faktor 31.8532004
Jelleg Scientific paper, proceedings
Témák Materials Science and Analytics
Linkek DOI Hivatkozások (16)

Szerzői Táblázat

Total Headed by ATOMKI under name
of the author
Part of the author Part of the author & ATOMKI
Publications:700.3390
SCIPublications:400.1890
Cited publications:500.2390
Non-locally cited publications:500.2390
Cited SCIpublications:400.1890
Non-locally cited SCIpublications:400.1890
SCICited publications:500.2390
Non-locally SCIcited publications:500.2390
SCICited SCIpublications:400.1890
Non-locally SCIcited SCIpublications:400.1890
Citations:3401.6490
Non-local citations:3401.6490
SCICitations:3401.6490
Non-local SCIcitations:2901.4390
Impact~2015:40.55500.3390
Averaged impact:5.79400.3390
SCIaveraged impact:10.13900.1890
Citational effectivity:6.800.2390
Non-local citational effectivity:6.800.2390
SCIcitational effectivity:5.800.2390
Non-local SCIcitational effectivity:5.800.2390
Publications, n:8.857000
SCIPublications, n:8.75000
Cited publications, n:8.8000
Non-locally cited publications, n:8.8000
Cited SCIpublications, n:8.75000
Non-locally cited SCIpublications, n:8.75000
SCICited publications, n:8.8000
Non-locally SCIcited publications, n:8.8000
SCICited SCIpublications, n:8.75000
Non-locally SCIcited SCIpublications, n:8.75000
z-index:2000