APHA-kód | P22106 |
Szerzők | Csik A.,  Vad K.,  Langer G. A.,  Katona G. L.,  Tóth-Kádár E.,  Péter L. |
Cím | Analysis of Co/Cu multilayers by SNMS reverse depth profiling. |
Megjelenés helye | Vacuum 84 (2010) 141 |
Impakt faktor | 1.048 |
Megnézem | DOI Hivatkozások (2) |