Atommagkutató Intézet
MTA Kiváló Kutatóhely

Publikáció

APHA-kód P2660
Szerzők Végh J.
Cím An evaluation procedure for in-depth concentration profiling with PIXE.
Megjelenés helye Atomki Közlemények 20 (1978) 229
Impakt faktor 0.000
Megnézem   Hivatkozások (13)