Atommagkutató Intézet
MTA Kiváló Kutatóhely

Képalkotás felületekről atomi feloldásban

Kompetencia terület Analysis of materials and surfaces
Módszer SPM
Kapcsolattartó
Publikációk
Szakmai leírás

Scanning Probe Microscopy (SPM) is a group of methods, like Scanning Tunneling Microscopy (STM) and Atomic Force Microscopy (AFM), that uses a probe to sense a probe to surface atom interaction. By two dimensional scanning of the probe on the surface in Ultra High Vacuum (UHV) condition reveals atomic resolution microscopic image.

 

Download further information: