Magyar
| APHA-kód | P24615 |
| Szerzők | Lovics R., Csik A., Takáts V., Hakl J., Vad K., Langer G. A. |
| Cím | Depth profile analysis of solar cells by Secondary Neutral Mass Spectrometry using conducting mesh. |
| Megjelenés helye | Vacuum 86 (2012) 721 |
| Impakt faktor | 1.530 |
| Megnézem | Hivatkozások (3) |
