Magyar
| APHA-kód | P22098 |
| Szerzők | Vad K., Csik A., Langer G. A. |
| Cím | Secondary neutral mass spectrometry - a powerful technique for quantitative elemental and depth profiling analyses of nanostructures. |
| Megjelenés helye | Spectroscopy Europe 21 (2009) 13 |
| Impakt faktor | 0.000 |
| Megnézem | Hivatkozások (5) |
