| APHA-code | P22098 |
| Authors | Vad K.,  Csik A.,  Langer G. A. |
| Title | Secondary neutral mass spectrometry - a powerful technique for quantitative elemental and depth profiling analyses of nanostructures. |
| Megjelenés helye | Spectroscopy Europe 21 (2009) 13 |
| Impact factor | 0.000 |
| Megnézem | Hivatkozások (5) |
Magyar