Publikáció

APHA-kód P11705
Szerzők Molnár J.,  Fenyvesi A.,  Dajkó G.,  Végh J.,  Kerek A.,  Novák D.
Cím Radiation tolerance tests of components for the FERMI microchip module.
Megjelenés helye Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 143 (1998) 536
Impakt faktor 1.093
Megnézem DOI   Hivatkozások (1)