Magyar
| APHA-kód | P21887 |
| Szerzők | Bartók A., Csik A., Vad K., Molnár Gy., Tóth-Kádár E., Péter L. |
| Cím | Application of surface roughness data for the evaluation of depth profile measurements of nanoscale multilayers. |
| Megjelenés helye | Journal of the Electrochemical Society 156 (2009) D253 |
| Impakt faktor | 2.241 |
| Megnézem | DOI Hivatkozások (8) |
