Publikáció

APHA-kód P21887
Szerzők Bartók A.,  Csik A.,  Vad K.,  Molnár Gy.,  Tóth-Kádár E.,  Péter L.
Cím Application of surface roughness data for the evaluation of depth profile measurements of nanoscale multilayers.
Megjelenés helye Journal of the Electrochemical Society 156 (2009) D253
Impakt faktor 2.241
Megnézem DOI   Hivatkozások (8)