Magyar Tudományos Akadémia
Atommagkutató Intézet

Profilométer

Kategória Mérőberendezés
Típus AMBIOS XP-I
Szervezeti egység
Eszközfelelős
Üzembentartó MTA Atomki - Debreceni Egyetem
Érték Közepes értékű
Beépítettség Mobilizálható
Kivonat
Leírás

Az AMBIOS XP-I típusú profilométer 0,05 - 10 mg közötti tartományban szabályozható tű nyomóerő alkalmazásával felületek durvaságának nanométeres mélységi feloldással történő elemzését teszi lehetővé.