Magyar Tudományos Akadémia
Atommagkutató Intézet

Elemanalízis és elemtérkép-felvétel

Kompetencia terület Analysis of materials and surfaces
Módszer SNMS, XPS, EDX, XRD, PIXE, PIGE
Kapcsolattartó
Témák
Szakmai leírás

Tetszőleges szilárdtestminták felületi összetevőinek és sűrűségeloszlásának feltérképezése plazma- és ionnyaláb-indukált szórási, illetve porlasztási folyamatok segítségével. Lehetőség van alacsony koncentrációjú nyomelemek kimutatására, mikroszerkezeti elváltozások vizsgálatára, illetve nagyfelbontású mélységi- és felületi elemtérképek készítésére.

 

Alkalmazott vizsgálati módszerek: